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产品信息
“GDS-80型高精度晶振阻抗测试仪”参数说明
| 是否有现货： | 是 | ： | 第三方 |
| 类型： | 时间校准 | 型号： | GDS-80 |
| 规格： | 智能式 | 商标： | 智慧源 |
| 包装： | 软装 | 产地： | 深圳 |
| 测试范围： | 晶振产品 | 精度： | 优于0.5ppm |
| 重量： | 3.5Kg | 保修： | 三年 |
| 产量： | 10000 |
“GDS-80型高精度晶振阻抗测试仪”详细介绍
一、 概述
GDS-80型高精度晶振阻抗测试仪以单片机为，进行功能切换，测量控制，数据处理。采用倒数测量计数技术，实现了全范围内的等精度测量。日稳5 10-7 / 日的恒温晶体振荡器，保证了测量数据的可靠性。 GDS-80型高精度晶振阻抗测试仪具有频率、周期、累计、ppm等测量功能，并根据用户的需要，可增添合适的功能。
二、使用的环境条件 工作环境温度：0 40℃相对温度： 90
三、技术参数 3.1 测量范围： 3.1.1 频率测量范围：0.1 Hz ~ 100 MHz 3.1.2 周期测量范围：10 ns ~ 10 s 3.1.3 计数容量：1 10 8 3.1.4 ppm：1ppm 3.2 动态范围：50 mV ～ 1.5 Vms 3.3 输入耦合方式：AC 3.4 闸门时间：0.01s 、0.1s 、1s（可设定） 3.5 准确度： 时基准确度 触发误差 被测频率（周期） LSO 其中LSO = （100 ns / 闸门时间） 被测频率 （被测周期） 3.6 时基： 3.6.1 标称频率：10 MHz 3.6.2 频率稳定度：5 10 7/d 3.7 显示： 九位LED数码管显示 3.8 电源： 220 V 22 V 50 H z 2.5 Hz 3.9 整机功耗： 10 VA 3.10 可靠性：平均无故障工作时间MTBF 10000 h
基本介绍
GDS-80型高精度晶振阻抗测试仪是高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现智能化测量，符合IEC-444标准。GDS-80型高精度晶振阻抗测试仪测量频率范围20KHz-100MHz，附RS-232接口进行数据通信。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业生产和科研使用。
GDS-80型高精度晶振阻抗测试仪采用π型网络零相位法实现等精度测量。GDS-80型高精度晶振阻抗测试仪测量精度高，速度快；具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、PPM值、静电容等参数测量，可保存5个不同晶振频率和负载电容参数，负载电容在2-20P范围内任意编程设置，从满足不同负载电容的晶振测试，智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦，让晶振测试变得更轻松。
性能特点
1. 阻抗值、ppm同时显示
2. 无需人工校对，直接测试多种参数
3. 新技术，符合IEC-444标准，满足国人需求，可替代进口设备
4. LCD显示PPm超标提示功能
2. 无需人工校对，直接测试多种参数
3. 新技术，符合IEC-444标准，满足国人需求，可替代进口设备
4. LCD显示PPm超标提示功能
技术参数
1. 中心频率范围： 20KHz-100MHz任意设定
2. 负载电容：4-20P 任意设定
3. 负载谐振电阻：1Ω-300Ω 1K-300K
4. PPm范围测量：±300ppm
5. PPm测量精度：< 0.5ppm
6. 时基频率：16.384M
7. 晶振稳定性：2×10-8 /日
8. 体积：80×235×305（mm）
9. 保修期：三年
2. 负载电容：4-20P 任意设定
3. 负载谐振电阻：1Ω-300Ω 1K-300K
4. PPm范围测量：±300ppm
5. PPm测量精度：< 0.5ppm
6. 时基频率：16.384M
7. 晶振稳定性：2×10-8 /日
8. 体积：80×235×305（mm）
9. 保修期：三年
使用说明
GDS-80型高精度晶振阻抗测试仪采用π型网络零相位法实现等精度测量。它测量精度高，速度快；具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、PPM值、静电容等参数测量，可保存5个不同晶振频率和负载电容参数，负载电容在2-20P范围内任意编程设置，从满足不同负载电容的晶振测试，智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦，让晶振测试变得更轻松。
特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业生产和科研使用。
特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业生产和科研使用。
采购须知
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